| 客户名称 | 申请量 | 发明专利 | 实用新型 | 外观设计 | PCT申请数 |
|---|---|---|---|---|---|
| 日本电气株式会社 | 9 | 9 | 0 | 0 | 0 |
| 客户名称 | 申请量 | 发明专利 | 实用新型 | 外观设计 | PCT申请数 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 暂无数据 | ||||||
| 客户名称 | 申请量 | 发明专利 | 实用新型 | 外观设计 | PCT申请数 |
|---|---|---|---|---|---|
| 中国科学院半导体研究所 | 4 | 2 | 2 | 0 | 0 |
| 中国科学院化工冶金研究所 | 2 | 1 | 1 | 0 | 0 |
| 发明专利 | 实用新型 | 外观设计 |
|---|---|---|
| 13 | 3 | 0 |
| 省份 | 申请量 | 发明专利 | 实用新型 | 外观设计 |
|---|---|---|---|---|
| 北京市 | 6 | 3 | 3 | 0 |
| 领域排名 | 技术领域 | 专利数量 |
|---|---|---|
| 1 | H01L半导体器件；其他类目未包含的电固体器件 | 8 |
| 2 | B01D分离 | 1 |
| 3 | B01J化学或物理方法，例如，催化作用、胶体化学；其有关设备 | 1 |
| 4 | B08B一般清洁；一般污垢的防除 | 1 |
| 5 | C23C对金属材料的镀覆；用金属材料对材料的镀覆；表面扩散法，化学转化或置换法的金属材料表面处理；真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆 | 1 |
| 6 | F41G武器瞄准器；制导 | 1 |
| 7 | G01F容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量 | 1 |
| 8 | G06K数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理 | 1 |
| 9 | H03K脉冲技术 | 1 |
| 领域排名 | 外观设计国际分类 | 专利数量 |
|---|---|---|
| 暂无数据 | ||