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H01L半导体器件；其他类目未包含的电固体器件
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126 |
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G01J红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
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111 |
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G02B光学元件、系统或仪器
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108 |
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G01N借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
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85 |
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F25B制冷机，制冷设备或系统；加热和制冷的联合系统；热泵系统
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47 |
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G01M机器或结构部件的静或动平衡的测试；未列入其他类目的结构部件或设备的测试
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36 |
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G06T一般的图像数据处理或产生
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22 |
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G01S无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
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20 |
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G06F电数字数据处理
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17 |
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G01B长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
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16 |
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H01S利用受激发射的器件
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15 |
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F28D不包含在其他小类中的热交换设备，其中热交换介质不直接接触的；一般贮热装置或设备
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11 |
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G01C测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
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11 |
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C23C对金属材料的镀覆；用金属材料对材料的镀覆；表面扩散法，化学转化或置换法的金属材料表面处理；真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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10 |
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H05K印刷电路；电设备的外壳或结构零部件；电气元件组件的制造
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9 |
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A61B诊断；外科；鉴定
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8 |
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H04B传输
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7 |
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H04N图像通信，例如电视
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7 |
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G01V地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
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6 |
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G05D非电变量的控制或调节系统
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6 |
