1 |
G02B光学元件、系统或仪器
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145 |
2 |
G01N借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
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64 |
3 |
G01B长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
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56 |
4 |
C09K不包含在其他类目中的各种应用材料;不包含在其他类目中的材料的各种应用
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44 |
5 |
G01M机器或结构部件的静或动平衡的测试;未列入其他类目的结构部件或设备的测试
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37 |
6 |
A61K医用、牙科用或梳妆用的配制品
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32 |
7 |
H01S利用受激发射的器件
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32 |
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B61F铁路车辆的悬架,如底架、转向架、轮轴;在不同宽度的轨道上使用的铁路车辆;预防脱轨;护轮罩;障碍物清除器或类似装置
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30 |
9 |
B24B用于磨削或抛光的机床、装置或工艺;磨具磨损表面的修理或调节;磨削,抛光剂或研磨剂的进给
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29 |
10 |
G01J红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
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29 |
11 |
A61B诊断;外科;鉴定
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27 |
12 |
B23K钎焊或脱焊;焊接;用钎焊或焊接方法包覆或镀敷;局部加热切割,如火焰切割;用激光束加工
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27 |
13 |
G01C测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
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26 |
14 |
C07D杂环化合物
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15 |
H04N图像通信,例如电视
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16 |
C23C对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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23 |
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C08L高分子化合物的组合物
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C08G用碳—碳不饱和键以外的反应得到的高分子化合物
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G03F图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
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20 |
H01L半导体器件;其他类目未包含的电固体器件
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