
基本信息:
- 专利标题: 针对航天器材料或器件实现空间辐射环境效应评估的方法、装置、处理器及其可读存储介质
- 申请号:CN202411912604.3 申请日:2024-12-24
- 公开(公告)号:CN119830455A 公开(公告)日:2025-04-15
- 发明人: 张庆 , 沈世亮
- 申请人: 上海瀚海检测技术股份有限公司
- 申请人地址: 上海市杨浦区翔殷路20号六号楼201、202室
- 专利权人: 上海瀚海检测技术股份有限公司
- 当前专利权人: 上海瀚海检测技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市杨浦区翔殷路20号六号楼201、202室
- 代理机构: 上海智信专利代理有限公司
- 代理人: 王洁; 郑暄
- 主分类号: G06F30/15
- IPC分类号: G06F30/15 ; G06F30/20 ; G16C60/00 ; G06F119/02 ; G06F119/04
摘要:
本发明涉及一种针对航天器材料或器件实现空间辐射环境效应评估的方法,包括,本发明还涉及一种针对航天器材料或器件实现空间辐射环境效应评估的装置、处理器及其计算机可读存储介质。采用了本发明的针对航天器材料或器件实现空间辐射环境效应评估的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质,通过综合考虑空间辐射模型、轨道类型、航天器寿命以及材料特性,能够更准确地模拟和评估航天器材料或器件在空间辐射环境下的效应,从而提高评估结果的可靠性,有助于优化实验设计,减少实验误差。通过构建材料和器件在不同空间环境下的退化模型,有助于开发分析航天器的可靠性和寿命预估的方法,有助于提高航天器在空间辐射环境下的性能和寿命。
IPC结构图谱:
G06F30/15 | 车辆、飞行器或船只的设计 |