基本信息:
- 专利标题： 底片的检验方法及底片检测组件
- 申请号：CN202010839184.6 申请日：2020-08-19
- 公开(公告)号：CN114076771B 公开(公告)日：2024-08-09
- 发明人： 赖礼平
- 申请人： 南通深南电路有限公司
- 申请人地址： 江苏省南通市高新区希望大道168号
- 专利权人： 南通深南电路有限公司
- 当前专利权人： 南通深南电路有限公司
- 当前专利权人地址： 江苏省南通市高新区希望大道168号
- 代理机构： 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 黎坚怡
- 主分类号： G01N21/956
- IPC分类号： G01N21/956
摘要：
本申请公开了一种底片的检验方法及底片检测组件，该检验方法包括：当检测到待检测线路板的缺陷时，将待检测线路板的板件信息显示在自动视觉检测机的显示界面的对应位置，将板件信息进行整合；将整合后的待检测线路板的板件信息上传至阻焊曝光机的显示界面的预设位置；阻焊曝光机接收待检测线路板的板件信息，停止曝光，并进行锁定，并根据待检测线路板的板件信息提示底片的需修正位置。本申请通过自动视觉检测机检测板件信息，将板件信息传输给阻焊曝光机，阻焊曝光机根据板件信息提示底片的需修正位置，避免了手动报板传送繁琐的问题，提高数据传送效率，节约了人工成本，同时降低了异常品再流出的风险，进一步降低报废成本。
公开/授权文献:
- CN114076771A 底片的检验方法及底片检测组件 公开/授权日：2022-02-22
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |
| ------------G01N21/95 | ...特征在于待测物品的材料或形状 |
| --------------G01N21/956 | ....检测物品表面上的图案 |